AEC-Q100H：2014 基于失效機理的集成電路應力試驗鑒定
日期：2025-03-21 14:18:08 瀏覽量：74 標簽: 應力試驗鑒定
「PDF資料下載」AEC-Q100H：2014 基于失效機理的集成電路應力試驗鑒定
AEC-Q100H：2014 基于失效機理的集成電路應力試驗鑒定.pdf
相關閱讀
CNAS-AI01-12：附表7：管理體系核查表（CNAS-CI01-A005：2021）《檢驗機構能力認可準則在建設工程檢驗領域的應用說明》
2021-02-05 16:59:00
「PDF資料下載」電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗A：低溫試驗方法
2021-07-26 16:30:00
「PDF資料下載」電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗B：高溫試驗方法
2021-07-26 16:35:00
電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Ca：恒定濕熱試驗方法
2021-07-26 16:41:49
電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗規(guī)程 試驗Db：交變濕熱試驗方法
2021-07-26 16:46:36
